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外接温度变化不会引起器件本身温度变化么
外界温度会影响,但题目是说的直接影响,这更偏向于问LDO本身的设计。
课件原话就是这么写的啊,为什么不对呢
答案是错的,公式都是对的,如图。
这个为啥
静态电流的损耗是Vin*Iq,如附件。
这个不明白
A、输入输出范围 B、负载大小 C、环境温度 D、MOS结温 四个选项中,C是外界影响因数。A/B/D是器件本身特性。
这个不明白
数据表规定 LDO 噪声的方式有两种。一种是“总(积分)输出噪声,以 μVrms 为单位”,即在有限频率范围内积分的频谱噪声密度 RMS 值。第二种是“频谱噪声密度曲线,以 μV/√Hz 为单位”,即噪声密度与频率的关系图。 详细参考:ZHCAA26B – JUNE 2009 LDO 噪声和 PSRR,LDO 噪声揭秘